Erittäin kompakti ToF-laseretäisyysanturi (7,8 m, 1 gramma)

ToF-laseretäisyysanturi käyttää edistynyttä dToF-teknologiaa ja lähettää 940 nm:n laserpulsseja saavuttaakseen erittäin tarkat etäisyysmittaukset jopa 7,8 metriin asti huomattavalla ±4 cm:n tarkkuudella. Sen rakenne vähentää merkittävästi ympäristön häiriöiden aiheuttamia ongelmia, sillä se kestää jopa 100 000 luksin ympäristön valon. Tämä mukautuvuus varmistaa saumattoman integroinnin Raspberry Pi , Arduino ja ESP32-järjestelmiin monipuolisten UART/I2C-liitäntöjen kautta, mikä parantaa sen toiminnallisuutta erilaisissa sovelluksissa.

Hämmästyttävän kompakti anturi on kooltaan vain 19 × 12 × 10,3 mm ja painaa vain yhden gramman, mikä tekee siitä yhden pienimmistä ja kevyimmistä saatavilla olevista dToF-ratkaisuista. Tämä erittäin pieni jalanjälki helpottaa sen sisällyttämistä mikrodrooneihin, puettavaan teknologiaan ja robottijärjestelmiin, poistaen perinteisten, kömpelöiden komponenttien rajoitukset. Optimoitu koko tukee sovelluksia, jotka vaativat vähän tilaa, kuten mikrodronien navigointia tai eleohjausominaisuuksia kompakteissa laitteissa, kuten älykelloissa.

Nopealla 50 Hz:n virkistystaajuudella varustettu anturi tarjoaa reaaliaikaista etäisyysdataa, joka on elintärkeää ympäristöissä, jotka vaativat nopeaa reagointikykyä. Tämä ominaisuus on erityisen hyödyllinen drone-navigoinnissa, esteiden estämisessä REAL tai teollisuuskuljetinjärjestelmien tehokkuuden varmistamisessa. Kapea 2–3°:n näkökenttä terävöittää tarkennusta, mikä vähentää ympäristön häiriöitä ja taustahäiriöitä ja ylläpitää tasaisen datalaadun vaihtelevissa valaistusolosuhteissa.

Anturin kestävän rakenteensa ansiosta se toimii myös voimakkaassa valaistuksessa, joka vastaa täyttä suoraa auringonvaloa. Tämä tekee siitä ihanteellisen valinnan ulkotiloihin, kuten liikenteen valvontaan ja rakennustyömaille. Kehittyneiden kohinansuodatusalgoritmien ansiosta se ylittää odotukset dynaamisissa ympäristöissä ja tarjoaa luotettavia lukemia, jotka ovat välttämättömiä ajoneuvon nopeuden tarkalle arvioinnille tai johdonmukaiselle materiaalitason arvioinnille teollisissa sovelluksissa.